絕緣電阻測(cè)試確保圍繞電器帶電部件的絕緣具有足夠高的電阻水平。

在絕緣測(cè)試之前的測(cè)試應(yīng)該是接地測(cè)試。如果器具未通過接地鍵測(cè)試，請(qǐng)勿進(jìn)行絕緣測(cè)試。

絕緣測(cè)試在500伏直流電下進(jìn)行5秒鐘。執(zhí)行此測(cè)試的所有PAT測(cè)試儀都是通過在執(zhí)行測(cè)試時(shí)在設(shè)備內(nèi)部將實(shí)時(shí)和中性引腳內(nèi)部短接來實(shí)現(xiàn)的。

這意味著帶電部件之間沒有潛在的差異。如果器具安裝了抑制器或電涌保護(hù)裝置，則測(cè)試可能表明發(fā)生故障。在這些情況下，絕緣測(cè)試可以代替漏電測(cè)試或替代漏電測(cè)試。

I類和II類設(shè)備都要進(jìn)行絕緣測(cè)試。了解每個(gè)類的測(cè)試方式之間的差異尤為重要。

許多人擔(dān)心絕緣測(cè)試會(huì)損壞IT設(shè)備的內(nèi)部電路。由于PAT測(cè)試機(jī)器執(zhí)行測(cè)試的方式，情況并非如此。

測(cè)試I類設(shè)備

1類設(shè)備應(yīng)將電源開關(guān)置于打開位置。將設(shè)備插入測(cè)試儀并選擇Class 1測(cè)試。絕緣測(cè)試合格標(biāo)記為1MΩ。這意味著絕緣讀數(shù)必須超過1MΩ才能通過測(cè)試。PAT測(cè)試儀將測(cè)量連接在一起的帶電部件（帶電和中性）與接地之間的電阻。

測(cè)試II類設(shè)備

如果您需要測(cè)試具有絕緣電阻測(cè)試的II類設(shè)備，則需要遵循稍微不同的程序。

在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，設(shè)備開關(guān)仍應(yīng)處于“打開”位置。

I類和II類測(cè)試的主要區(qū)別在于，對(duì)于II類設(shè)備，您必須將測(cè)試探針（引線）連接到相關(guān)設(shè)備上的任何金屬點(diǎn)。如果你有一個(gè)鉆頭，你可以把它放在“卡盤”或車身內(nèi)的螺絲上。如果有人損壞了內(nèi)部帶電部件或讓我們說通過設(shè)備內(nèi)的帶電電纜，那么這個(gè)測(cè)試會(huì)發(fā)現(xiàn)螺釘已通過帶電電纜。

對(duì)于大多數(shù)設(shè)備而言，在所有不同的金屬部分上多次完成此測(cè)試非常重要，以便評(píng)估整個(gè)設(shè)備中是否存在正確的絕緣水平。

對(duì)于此測(cè)試，帶電+中性線與器具的金屬部分之間的絕緣電阻應(yīng)大于2MΩ。

具有電涌保護(hù)功能的測(cè)試設(shè)備和擴(kuò)展引線

電涌保護(hù)裝置更常見于安裝在IT設(shè)備上的延長線上。

在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通常使用500V的標(biāo)準(zhǔn)電壓。受電涌保護(hù)的器具是不同的，因?yàn)樗鼈兙哂袃?nèi)置于器具中的電路，以防止電流“浪涌”進(jìn)入和損壞器具。

該電路設(shè)計(jì)用于監(jiān)控進(jìn)入設(shè)備的輸入電壓，如果電壓升至250伏以上，電路將把額外的電壓“轉(zhuǎn)移”到設(shè)備的接地電纜上。

當(dāng)我們?cè)?00v dc下進(jìn)行PAT測(cè)試時(shí)，所使用的電壓經(jīng)常觸發(fā)浪涌保護(hù)電路。因此，大多數(shù)電器測(cè)試儀都配有250伏絕緣測(cè)試選項(xiàng)，不會(huì)觸發(fā)電涌保護(hù)裝置。

并非所有PAT測(cè)試儀都具有此功能，因此也可以使用觸摸電流測(cè)試。